苹果|PCB设计中的checklist~( 四 )


  • 确认单板的PCB编码位置和层面正确(应该在A面左上方丝印层) 。
  • 确认背板的PCB编码位置和层面正确(应该在B右上方外层铜箔面) 。
  • 确认有条码激光打印白色丝印标示区 。
  • 确认条码框下面没有连线和大于0.5mm导通孔 。
  • 确认条码白色丝印区外20mm范围内不能有高度超过25mm的元器件 。
  • 9、过孔
    • 在回流焊面 , 过孔不能设计在焊盘上(常开窗的过孔与焊盘的间距应大于0.5mm (20mil) , 绿油覆盖的过孔与焊盘的间距应大于0.1 mm (4mil) , 方法:将Same Net DRC打开 , 查DRC , 然后关闭Same Net DRC) 。
    • 过孔的排列不宜太密 , 避免引起电源、地平面大范围断裂 。
    • 钻孔的过孔孔径最好不小于板厚的1/10 。
    10、工艺
    • 器件布放率是否100% , 布通率是否100%(没有达到100%的需要在备注中说明) 。
    • Dangling线是否已经调整到最少 , 对于保留的Dangling线已做到一一确认 。
    • 工艺科反馈的工艺问题是否已仔细查对 。
    11、大面积铜箔
    • 对于Top、bottom上的大面积铜箔 , 如无特殊的需要 , 应用网格铜(单板用斜网 , 背板用正交网 , 线宽0.3mm (12 mil)、间距0.5mm (20mil)) 。
    • 大面积铜箔区的元件焊盘 , 应设计成花焊盘 , 以免虚焊;有电流要求时 , 则先考虑加宽花焊盘的筋 , 再考虑全连接 。
    • 大面积布铜时 , 应该尽量避免出现没有网络连接的死铜(孤岛) 。
    • 大面积铜箔还需注意是否有非法连线 , 未报告的DRC 。
    12、测试点
    • 各种电源、地的测试点是否足够(每2A电流至少有一个测试点) 。
    • 确认没有加测试点的网络都是经确认可以进行精简的 。
    • 确认没有在生产时不安装的插件上设置测试点 。
    • Test Via、Test Pin是否已Fix(适用于测试针床不变的改板) 。
    13、DRC
    • Test via 和Test pin 的Spacing Rule应先设置成推荐的距离 , 检查DRC , 若仍有DRC存在 , 再用最小距离设置检查DRC 。
    • 打开约束设置为打开状态 , 更新DRC , 查看DRC中是否有不允许的错误 。
    • 确认DRC已经调整到最少 , 对于不能消除DRC要一一确认 。
    14、光学定位点
    • 确认有贴装元件的PCB面已有光学定位符号 。
    • 确认光学定位符号未压线(丝印和铜箔走线) 。
    • 光学定位点背景需相同 , 确认整板使用光学点其中心离边≥5mm 。
    • 确认整板的光学定位基准符号已赋予坐标值(建议将光学定位基准符号以器件的形式放置) , 且是以毫米为单位的整数值 。
    • 管脚中心距<0.5mm的IC , 以及中心距小于0.8 mm(31 mil)的BGA器件 , 应在元件对角线附近位置设置光学定位点
    15、阻焊检查
    • 确认是否有特殊需求类型的焊盘都正确开窗(尤其注意硬件的设计要求) 。
    • BGA下的过孔是否处理成盖油塞孔 。
    • 除测试过孔外的过孔是否已做开小窗或盖油塞孔 。
    • 光学定位点的开窗是否避免了露铜和露线 。
    • 电源芯片、晶振等需铜皮散热或接地屏蔽的器件 , 是否有铜皮并正确开窗 。 由焊锡固定的器件应有绿油阻断焊锡的大面积扩散 。
    16、钻孔图