华为|2022刻蚀设备行业报告:精雕细刻筑产业基石,国产刻蚀机未来可期( 四 )


金属刻蚀通常采用电感耦合等离子体刻蚀的刻蚀机 。
1 )铝的刻蚀
铝是半导体制备中最主要的导线材料 , 具有电阻低 , 易于沉积和刻蚀的优点 。 刻蚀铝 , 是利用氯化物气体所产生的等离子体完成的 。 铝和氯反应产生具有挥发性的三氯化铝(AlCl3) , 随着腔内气体被抽干 。 一般情况下 , 铝的刻蚀温度比室温稍高(例如 70℃) , AlCl3 的挥发性更佳 , 可以减少残留物 。 除了氯气外 , 铝刻蚀常将卤化物加入 , 如 SiCl4 , BCl3 , BBr3 , CCl4 , CHF3 等 , 主要是为了去除铝表面的氧化层 , 保证刻蚀的正常进行 。
2 ) 钨的刻蚀
在多层金属结构中 , 钨是用于孔填充的主要金属 , 其他的还有钛 , 钼等 。 可以用氟基或氯基气体来刻蚀金属钨 , 但是氟基气体(SiF6 , CF4)对氧化硅的选择比较差 , 而氯基气体(CCl4)则有好的选择比 。 通常在反应气体中加入氮气来获得高的刻蚀胶选择比 , 加入氧气来减少碳的沉积 。 用氯基气体刻蚀钨可实现各向异性刻蚀和高选择比 。 干法刻蚀钨使用的气体主要是 SF6 , Ar 及 O2 , 其中 , SF6 在等离子体中可被分解 , 以提供氟原子和钨进行化学反应产生氟化物 。
3 ) 氮化钛刻蚀
氮化钛硬掩膜取代传统的氮化硅或氧化层掩膜 , 用于双大马士革刻蚀工艺 。 传统掩膜和低 k 介电层之间的选择比不高 , 会导致在刻蚀完成后出现低 k 介电层顶部圆弧状轮廓以及沟槽宽度扩大 , 沉积形成的金属线之间的间距过小 , 容易发生桥接漏电或直接击穿 。 氮化钛刻蚀通常运用于硬掩膜开孔的过程中 , 主要反应产物为 TiCl4 。
1.3.5. 介质刻蚀
介质刻蚀以二氧化硅 , 氮化硅等电介质为主要刻蚀对象被广泛应用在芯片制造中 。
电介质刻蚀主要用于形成接触孔和通道孔 , 用以连接不同的电路层级 。 此外 , 介质刻蚀覆盖的工艺步骤还有硬式遮蔽层刻蚀和焊接垫刻蚀(部分) 。 介质刻蚀通常采用电容耦合等离子体刻蚀原理的刻蚀机 。
1 )二氧化硅膜的等离子刻蚀
二氧化硅膜的刻蚀通常采用含有氟化碳的刻蚀气体 , 如 CF4 , CHF3 , C2F6 , SF6 和C3F8 等 。 刻蚀气体中所含的碳可以与氧化层中的氧产生副产物 CO 及 CO2 , 从而去除氧化层中的氧 。 CF4 是最常用的刻蚀气体 , 当 CF4 与高能量电子碰撞时 , 就会产生各种离子 , 原子团 , 原子和游离基 。 氟游离基可以与 SiO2 和 Si 发生化学反应 , 生成具有挥发性的四氟化硅(SiF4) 。
2 )氮化硅膜的等离子刻蚀
氮化硅膜的刻蚀可以使用 CF4 或 CF4 混合气体(加 O2 , SF6 和 NF3)进行等离子体刻蚀 。 针对 Si3N4 膜 , 使用 CF4—O2 等离子体或其他含有 F 原子的气体等离子体进行刻蚀时 , 对氮化硅的刻蚀速率可达到 1200?/min , 刻蚀选择比可高达 20:1 , 主要产物为具有挥发性 , 方便被抽走的四氟化硅(SiF4) 。
1.4. 刻蚀工艺指标复杂 , 难度大行业壁垒高
刻蚀是光刻之外最重要的集成电路制造步骤 , 存在多项关键工艺指标 , 对芯片良品率和产能影响很大 。 刻蚀设备想要达成相关的工艺指标 , 则需要长期的实验和跑片来积累经验和 knowhow , 并不断调试设备各个子系统的相应参数设置 。 因此 , 刻蚀设备行业存在较高的壁垒 。
1 )刻蚀速率即在刻蚀过程中去除硅片表面材料的速度 , 实际生产中为了提高产量 , 需要提高刻蚀速率 。 在采用单片工艺的设备中 , 它是一个非常重要的参数 。
2 )刻蚀剖面指的是被刻蚀图形的侧壁形状 , 有两种基本的刻蚀剖面 , 分别是各向同性和各向异性 。 各向同性的刻蚀剖面是在所有方向上(横向和纵向)以相同的刻蚀速率进行刻蚀 。