集成电路 2D 存储器件的线宽已接近物理极限 。 NAND 闪存已进入 3D 时代 , 目前128 层 3D NAND 闪存已进入量产阶段 , 196 层和 200 层以上的闪存芯片正逐步放量 。 3D NAND 制造工艺中 , 增加集成度的方法不再是缩小单层的线宽 , 而是增加堆叠的层数 。 逻辑与 DRAM 集成电路也已遇到物理因素限制 , 3D 化设计雏形开始浮现 。 3D 化集成电路对刻蚀设备提出了更高的要求 。
【华为|2022刻蚀设备行业报告:精雕细刻筑产业基石,国产刻蚀机未来可期】1.2. 刻蚀方法从湿法到干法的演变
80 年代以后 , 随着集成电路制程的升级 , 及芯片结构尺寸的不断缩小 , 湿法刻蚀在线宽控制 , 刻蚀方向性方面的局限性渐渐显现 , 并逐步被干法刻蚀取代 。 湿法刻蚀目前多用于回刻蚀 , 特殊材料层的去除 , 残留物的清洗 。
1.2.1. 湿法刻蚀的技术应用
湿法刻蚀是较为原始的刻蚀技术 , 利用溶液与薄膜的化学反应去除薄膜未被保护掩模覆盖的部分 , 从而达到刻蚀的目的 。 其反应产物必须是气体或可溶于刻蚀剂的物质 , 否则会出现反应物沉淀的问题 , 影响刻蚀的正常进行 。 通常 , 使用湿法刻蚀处理的材料包括硅 , 铝和二氧化硅等 。
1 ) 硅的湿法刻蚀
一般采用强氧化剂对硅进行氧化 , 然后利用氢氟酸与二氧化硅反应 , 去除掉二氧化硅 , 达到刻蚀硅的目的 。 最常用的刻蚀溶剂是硝酸与氢氟酸和水的混合液 。 此外 , 也可以使用含 KOH 的溶液进行刻蚀 。
2 )二氧化硅的湿法刻蚀
二氧化硅的湿法刻蚀可以使用氢氟酸(HF)作为刻蚀剂 , 但是在反应过程中会不断消耗氢氟酸 , 从而导致反应速率逐渐降低 。 为了避免这种现象的发生 , 通常在刻蚀溶液中加入氟化铵作为缓冲剂 , 形成的刻蚀溶液称为 BHF 。 氟化铵通过分解反应产生氢氟酸 , 维持氢氟酸的恒定浓度 。
3 )氮化硅的湿法刻蚀
氮化硅是一种化学性质比较稳定的材料 , 它在半导体制造中的作用 , 主要是作为遮盖层 , 以及完成主要流程后的保护层 。 湿法刻蚀大多用于整层氮化硅的去除 , 对于小面积刻蚀 , 通常选择干法刻蚀 。
4 )铝的湿法刻蚀
集成电路中 , 大多数电极引线都由铝或铝合金制成 。 铝刻蚀的方法很多 , 生产上常用加热的磷酸 , 硝酸 , 醋酸以及水的混合溶液 。 硝酸的作用主要是提高刻蚀速率 , 醋酸用来提高刻蚀均匀性的 。
1.2.2. 干法刻蚀技术的运用
随着集成电路的发展 , 湿法刻蚀呈现出以下局限:不能运用 3 微米以下的图形;湿法刻蚀为各向同性 , 容易导致刻蚀图形变形;液体化学品潜在的毒性和污染;需要额外的冲洗和干燥步骤等 。
干法刻蚀技术的出现解决了湿法刻蚀面临的难题 。 干法刻蚀使用气体作为主要刻蚀材料 , 不需要液体化学品冲洗 。 干法刻蚀主要分为等离子刻蚀 , 离子溅射刻蚀 , 反应离子刻蚀三种 , 运用在不同的工艺步骤中 。
1 ) 等离子体刻蚀是将刻蚀气体电离 , 产生带电离子 , 分子 , 电子以及化学活性很强的原子(分子)团 , 然后原子(分子)团会与待刻蚀材料反应 , 生成具有挥发性的物质 , 并被真空设备抽气排出 。
根据产生等离子体方法的不同 , 干法刻蚀主要分为电容性等离子体刻蚀和电感性等离子体刻蚀 。 电容性等离子体刻蚀主要处理较硬的介质材料 , 刻蚀高深宽比的通孔 , 接触孔 , 沟道等微观结构 。 电感性等离子体刻蚀 , 主要处理较软和较薄的材料 。 这两种刻蚀设备涵盖了主要的刻蚀应用 。
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