这两年啊 , 想换安卓的小伙伴 , 肯定都听过这么一段吐槽:
“888 , 8Gen1 , X都不买!”
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虽然这是一句玩笑话 , 但也能看得出来 , 这两年安卓的旗舰产品 , 给大家折腾的有多“爽” 。
发布会上的“最强性能”每年都能听到 , 但功耗却也飙的停不下来 。
咱把时间再往前拨三年 。
那时候 , 谁没事儿会吹自己用了多好多好的散热黑科技哦 。。
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但是没办法 , 大家骂归骂 , 想换安卓机也没啥别的选择 。
但是吧 , 心里还是不由得想问一句 。
高通这两年 , 到底为啥这么热?
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>/发热问题不可避免
咱知道 , 只要做功 , 就一定会带来发热 。
而对芯片来说 , 这发热则主要由动态功耗和静态功耗两部分构成 。
动态功耗(DynamicPower)主要指的是芯片在工作时产生的热量 , 包括电路的充放电 , 晶体管工作状态的跳变 。
静态功耗(StaticPower)主要是指芯片中各种类型的漏电流和竞争电流等等 。
拿开关来举例子的话 , 动态功耗就像是咱们反复开关这个开关而产生的功耗 。
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而静态功耗就像是这个开关为了维持它当前的状态(是导通还是截止) , 静置在原地所产生的功耗 。
那咱们做的芯片嘛 。。。
自然是希望晶体管密度越来越高 , 对应的芯片的性能越来越强 , 功耗越来越低 。
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然而 , 芯片才不和你讲什么“理想” 。
这几年咱们把“开关”越做越小 , 动态功耗的的确确是降低了不少 。
但是随着芯片设计进入纳米领域之后 , 静态功耗的漏电问题就开始翻车 , 而且越来越严重 。
归其原因 , 可以理解为“开关”做的太薄了 , 挡不住两边的电子“偷渡” 。。。
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所以想要减少这漏电呢 , 就需要整点新的结构 , 新的材料 。
重新构建这又薄 , 又能阻挡“偷渡”的开关 。
在芯片做到28nm的时候 , 这个技术就是FinFET(鳍式场效应晶体管) 。
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而现在工艺慢慢做到5nm , FinFET也不太管用了 。
漏电水平仿佛一个圈 , 重新回到当年28nm工艺时的困境 。
这时候 , 大家伙倒腾出来解决问题的未来新工艺 , 叫做GAA(全环栅晶体管) 。
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这俩工艺和之前的区别 , 简单来讲就是从二维拓展到三维 。
增大了接触范围 , 能够更好的控制漏电 。
不过吧 , 可能是出于保守和以及工艺验证的原因 , 目前还没人用上GAA 。
所以目前没得选 , 大家的5nm就只能继续用着老工艺FinFET 。
缝缝补补来硬抗这漏电问题 。
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>/到底是工艺不行么?
那既然大家都是硬抗这漏电 , 那为啥隔壁人家隔壁苹果就可以把能耗比控制的那么好?
这就不得不提广为人知的第一个背锅侠了:
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