光刻机|国产光刻机怎么没消息了?( 二 )


第三:双工件台 , 双工件台也有现成的 , 那就是自主研发的DWS系列 。 该双工件台的平均运动偏差为4.5纳米 , 标准运动偏差为7纳米 , 最大速度为1.1米/秒 , 最大加速度为2.4g 。 正在研发DWSI系列 , 同样采用了磁悬浮平面电机驱动 , 不过换成了平面光栅干涉位移测量技术 。 在以上技术的加成下 , 就缩小了运动偏差 , 加速度 , 运动速度等数据 。 最终DWSI双工件台的平均运动偏差为2.5纳米 , 标准运动偏差为5纳米 , 最大速度为1.5米/秒 , 最大加速速度为3.2g 。 国际先进光刻机的现状 , 国际最先进的光刻机制造厂家就是ASML , 当然了极紫外EUV光刻机的部件是相当精密的 , 需要全球主要发达国家的支持 。 第一:光源 , ASML生产的极紫外EUV光刻机 , 采用了Cymer公司研发的波长为13.5纳米 , 功率为250W的激光等离子体光源 。 早期Cymer公司还属于美国 , 只不过最后被ASML收购了 。

该光源主要有两大特点:第一 , 高达250瓦的功率 , 由于极紫外EUV光刻机使用的是反射式物镜系统 , 只有光源的功率足够高之后 。 当紫外光波被十多个反射镜的反射吸收之后 , 剩下的功率才可以满足光刻的要求 。 另外 , 光刻机光源的功率越高 , 刻录芯片的速度也就越快 , 那效率自然就很高 。 第二 , 13.5纳米的较短极紫外波 。 众所周知 , 光刻机所用的光源的波长与最小制程工艺息息相关 。 由于芯片的制程工艺和光刻机的曝光分辨率有着密切的关系 。 而光刻机的曝光分辨率又和光源的波长息息相关 , 当然光源的波长越短 , 曝光分辨率也就越高 , 制程工艺也就越小 , 科技含量也就越高 。 光源的波长越长 , 曝光分辨率越低 , 芯片制程工艺也就越大 , 技术含量就越少 。 如今手机和电脑等电子产品所用的芯片的制程工艺已经下探至4纳米 , 这技术含金量可是相当高的 。

第二:物镜组 , 极紫外EUV光刻机使用后的是反射镜 , 而当反射镜的表面不光滑时 。 入射到镜面的光源就会被反射到各个方向 , 从而降低光源的聚合性 , 也就降低了光源的功率 , 很有可能无法满足刻录芯片的需求为了使光源被反射后 , 还具备较高的聚合性和较大的功率 , 所以就对反射镜的表面粗糙度有着苛刻的要求 。 ASML的极紫外EUV光刻机 , 使用的是德国蔡司公司研发的反射镜 。 这些反射镜的表面镀了近百层由钼和硅制成薄膜 , 而薄膜的粗糙度控制在0.05纳米 , 比芯片的制程工艺还要小两个量级 , 制造难度还是相当大的 。 第三:双工件台 , 双工件台的作用就是承载着晶圆 , 主要是将光刻前的准备工作 , 和正在进行的光刻的芯片分隔开来 。 即 , 一个工件台上的晶圆在做曝光时 , 另一个工件台对晶圆做测量等曝光前的准备工作 。 当第一个工件台的曝光工作完成之后 , 两个工件台交换位置和职能 。 这样一来 , 就可以提高光刻机的生产速度 , 使用双工件台的光刻机 , 每小时可以处理200片晶圆 。 相对于使用单工件台的光刻机而言 , 生产效率提高了3倍 。

ASML研发的极紫外EUV光刻机所用的就是 , 其自己研发的Twinscan系列双工件台 , 该双工件台的运动精度误差控制在1.8纳米 。 综上所述 , ASML生产的极紫外EUV光刻机三大核心部件的研发难度是相当大的 。 就从全球来看 , 也只有区区一两个企业可以拿得出来 。 而除了以上三大核心部件外 , 还有掩膜台 , 掩膜板 , 光刻胶 , 操作系统等也比较重要 。 可见光刻机的研发生产 , 真的是一件难度比较大的事情 , 基本上可以成为当今世界上难度最大 , 复杂度最高的综合系统 。 通过对比国内外的光刻机三大部件可知:国内在光源的波长和功率 , 反射镜 , 双工件台的运行精度等还有较大的差距 , 不过ASML不准备听从美国的命令 , 想要对我国出口浸没式DUV光刻机 , 这里的意思就很明确了 。 当我国研制出浸没式DUV光刻机后 , 那ASML再想卖也没有用了 , 估计是他们听到了有关我国浸没式DUV光刻机的风声 , 想要在研发出现之前大赚一笔 。 从此来看 , 我国的浸没式DUV光刻机离出世也不远了 。